时间分辨光谱基础
作 者:郭础
ISBN:978-7-04-036009-7
出版时间:2012-10-19
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- 6.1 分子荧光光谱的几个基本特性参数
- 6.1.1 分子荧光的频率特性
- 6.1.2 分子荧光的偏振特性
- 6.1.3 分子荧光的时间特性及荧光量子产率
- 6.1.4 分子荧光的猝灭现象—Stern-Volmer 方程
- 6.2 荧光强度测量的影响因素修正
- 6.2.1 自吸收效应
- 6.2.2 几何光学因素考虑
- 6.2.3 光栅效应修正
- 6.3 分子荧光过程的实时监测
- 6.3.1 条纹摄像技术用于荧光过程的实时测量的几个基本技术考虑
- 6.3.2 典型的条纹摄像测量实验装置
- 6.4 荧光衰变过程的脉冲取样测量
- 6.4.1 电子学取样测量
- 6.4.2 光学取样测量
- 6.5 荧光过程的时间相关单光子计数测量
- 6.5.1 基本原理
- 6.5.2 测量方法
- 6.5.3 方法特点
- 6.5.4 测量系统和设备单元
- 6.5.5 几点具体的实验技术考虑
- 6.6 荧光衰变过程的相位调制测量方法
- 6.7 荧光衰变过程测量及荧光发射光谱谱图应用
- 6.7.1 荧光强度衰变测量及典型应用
- 6.7.2 时间分辨荧光发射光谱谱图测量及典型应用
- 6.8 荧光各向异性弛豫及应用
- 6.8.1 一般理论描述
- 6.8.2 影响荧光各向异性弛豫过程动力学规律的一些因素
- 6.8.3 荧光各向异性弛豫过程的测量方法及一些技术考虑
- 6.8.4 荧光各向异性弛豫过程测量方法的一些应用实例