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- 6.1 高分辨电子显微术
- 6.1.1 傅里叶变换与卷积理论
- 6.1.2 高分辨像形成过程描述的两个重要函数
- 6.1.3 弱相位体高分辨像的直接解释
- 6.1.4 高分辨像的多层法计算机模拟
- 6.1.5 高分辨像显示位错特征的方法
- 6.1.6 用高分辨像确定未知晶体结构的方法
- 6.2 会聚束电子衍射
- 6.2.1 各种衍射方式及其特点的比较
- 6.2.2 会聚束电子衍射花样的形成和特征
- 6.2.3 HOLZ 线的指标化
- 6.2.4 会聚束电子衍射的应用举例
- 6.3 薄膜试样的X 射线能谱分析
- 6.3.1 X 射线固体探测器的原理
- 6.3.2 薄试样成分定量分析原理及特点
- 6.4 电子能量损失谱及其定量微观分析
- 6.4.1 电子能量损失谱仪
- 6.4.2 电子能量损失谱
- 6.4.3 电子过滤成像和衍射
- 6.5 分析电子显微学进展
- 6.5.1 负球差系数成像技术
- 6.5.2 定量扫描透射电子显微术
- 6.5.3 电子全息术
- 参考文献